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文檔簡介
1、STM可以測得實(shí)空間中二維材料的能態(tài)密度譜,不同材料的能態(tài)密度譜具有不同的形狀,相同的材料在不同的相中也會得到不同形狀的能態(tài)密度譜。這里能譜的不同形狀是指,在譜圖中某一偏壓下,出現(xiàn)一個峰值或者打開了一個能隙,這都對應(yīng)著材料中某一特征能量的出現(xiàn)。所以,通過理論模擬STM測得的dI/dV能譜,對理解材料中特征能量是如何形成的以及指導(dǎo)STM實(shí)驗(yàn)檢測材料具有十分重要的意義。
本論文主要以能帶理論、Bardeen的隧穿電流理論和格林函數(shù)
2、方法為基礎(chǔ),求解了二維體系窄帶的色散關(guān)系,研究了s波、d波超導(dǎo)體的一般性dI/dV能譜特征,論證了格林函數(shù)方法與STM能譜的關(guān)系。這樣就初步形成了一套從STM測得的能譜數(shù)據(jù)來認(rèn)識材料電子結(jié)構(gòu)的模擬方法。之后將這套方法應(yīng)用在高溫銅氧化物超導(dǎo)中,并在計(jì)算的過程中引入了八重矢量模型方法求得高溫銅氧化物超導(dǎo)的干涉圖樣,比較了格林函數(shù)方法與箱態(tài)密度法的區(qū)別與聯(lián)系。在模擬計(jì)算重費(fèi)米子材料時,引入了計(jì)算多帶的格林函數(shù)方法和計(jì)算干涉圖樣的格林函數(shù)方法。
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