基于廣播掃描的低功耗測試壓縮方法研究.pdf

1、隨著半導體工藝的不斷成熟，芯片的規(guī)模越來越大，結構越來越復雜。為了保證芯片的良率和可靠性需要進行復雜的測試。測試超大規(guī)模的芯片需要海量的測試數(shù)據(jù)，而且由于芯片測試期間的功耗遠大于功能功耗，很容易對芯片造成不可逆的結構性損壞，進而造成芯片良率的損失。芯片的測試問題成為當前半導體行業(yè)亟待解決的問題。針對這一問題，本文對協(xié)同降低測試功耗和測試數(shù)據(jù)量的方法展開研究，主要工作如下:
　　提出一種三態(tài)控制的低功耗廣播掃描測試數(shù)據(jù)壓縮方法。該方

2、法根據(jù)掃描切片是否含有稀疏位和掃描切片間的相容性將掃描切片劃分為三種類型。首先針對稀疏掃描切片進行以降低捕獲功耗為目的的X填充，然后對參考掃描切片進行移位功耗優(yōu)化填充，最后針對每一個掃描切片的類型用一位三態(tài)信號標志其類型。該方法只需保存參考掃描切片的內容，對于剩余兩種掃描切片只保存其一位標志位。實驗結果表明，此方法平均壓縮率為70.83％，可以有效減少測試存儲量。該方法對捕獲功耗的優(yōu)化均在20％以上，同時可以有效降低移位功耗。