中小尺寸LCD控制芯片低功耗可測(cè)性設(shè)計(jì)與靜態(tài)時(shí)序分析.pdf

1、本文討論的內(nèi)容是針對(duì)中小規(guī)模液晶顯示應(yīng)用而設(shè)計(jì)的一款圖形顯示控制芯片，對(duì)該芯片的低功耗和可測(cè)性設(shè)計(jì)進(jìn)行研究，提出了完整的低功耗和可測(cè)性設(shè)計(jì)方案。在不同的設(shè)計(jì)層次，結(jié)合使用了動(dòng)態(tài)功耗管理、存儲(chǔ)器分塊、預(yù)計(jì)算技術(shù)等多種流行的低功耗設(shè)計(jì)技術(shù)，以極低的面積開銷十分有效的降低了芯片正常工作模式的功耗。芯片的測(cè)試采用掃描測(cè)試與MBIST測(cè)試相結(jié)合的方案。通過增加少許電路結(jié)構(gòu)，解決了由于內(nèi)部多時(shí)鐘以及多個(gè)嵌入式存儲(chǔ)器模塊的結(jié)構(gòu)帶來的影響可測(cè)性要求的問

2、題。全芯片總共構(gòu)造16條掃描鏈，使用Synopsys TetraMAX完成自動(dòng)測(cè)試圖形生成(ATPG)。通過對(duì)錯(cuò)誤仿真分析表明，掃描測(cè)試達(dá)到了較高的測(cè)試覆蓋率?？蓽y(cè)性設(shè)計(jì)中也充分考慮了低功耗的要求，如掃描測(cè)試狀態(tài)下關(guān)閉存儲(chǔ)器讀寫時(shí)鐘，禁止存儲(chǔ)器的讀寫操作；MBIST測(cè)試狀態(tài)下關(guān)閉所有功能模塊時(shí)鐘以及尚未工作的MBIST模塊時(shí)鐘。這些措施都十分明顯的地降低了測(cè)試過程中的功耗浪費(fèi)。本文最后給出了可測(cè)性和低功耗設(shè)計(jì)下對(duì)LCD控制芯片分別進(jìn)