左心房低電壓對心房顫動射頻消融結果的影響.pdf

1、目的:探討存在左房低電壓對房顫患者接受射頻消融手術結果的影響，評價房顫射頻消融術后復發(fā)的影響因素。
　　方法:入選2012年3月至2013年5月于天津市胸科醫(yī)院心內科行首次射頻消融的心房顫動患者共50例，其中持續(xù)性房顫患者18例，陣發(fā)性房顫患者32例。在Ensite Navx三維標測系統(tǒng)指導下行房顫射頻消融術。對于陣發(fā)性房顫患者行環(huán)肺靜脈消融(Circumferential Pulmonary vein ablation CPVA

2、)，消融終點為左右肺靜脈電位消失或肺靜脈電位完全電隔離不能經消融徑線傳出，并經ATP及異丙腎上腺素誘發(fā)后仍無肺靜脈電位傳出。持續(xù)性房顫患者，術前行電復律或藥物復律，行雙側肺靜脈的CPVA術后，行左房頂部線、二尖瓣環(huán)峽部線或左房前壁線直至消融線實現(xiàn)雙向阻滯。所有入選患者記錄其臨床基本資料，同時消融前竇性心律下應用lasso標測電極進行電壓標測。記錄后計算平均雙極電壓幅度、低電壓區(qū)及瘢痕區(qū)面積。低電壓區(qū)域定義為雙極電壓幅度在0.05-0.5

3、mv之間，瘢痕區(qū)域定義為局部雙極電壓振幅小于0.05mv。計算瘢痕區(qū)及低電壓區(qū)占心房的面積的比例。消融術后華法林及低分子肝素重疊使用3天，繼續(xù)口服華法林至少3個月，使INR保持在1.8-2.5，并于手術后3個月、6個月及12個月進行常規(guī)隨訪，有心悸癥狀時隨時復查心電圖，隨訪內容包括:心電圖、24小時動態(tài)心電圖監(jiān)測。以3個月后ECG或24小時動態(tài)心電圖發(fā)現(xiàn)持續(xù)時間≥1分鐘的房顫定義為復發(fā)。消融后進行為期至少12個月的隨訪時間。使用單因素和

4、多因素分析方法評價左房低電壓以及其他變量對于結果的預測價值。
　　結果:(1)50例病人中，陣發(fā)性房顫患者32例，持續(xù)性房顫患者18例，分為陣發(fā)性房顫組與持續(xù)性房顫組。兩組患者在射血分數(shù)、器質性心臟病、年齡以及性別方面差異均無統(tǒng)計學意義(p＞0.05)。但是持續(xù)房顫組低電壓區(qū)檢出率更高(p＜0.05)(2)50例病人中，根據(jù)有無左房低電壓區(qū)存在，分為低電壓組與非低電壓組。低電壓組（共16例）與非低電壓組（共34例）相比左房內徑明顯

5、增大(46.5±4.3 mm VS38.9±7.4mm，p=0.011)，射血分數(shù)明顯減低(51.9±3.63％ VS57.5±6.0％，p=0.021);低電壓組與非低電壓組相比復發(fā)率較高(9/16 VS5/34，p=0.002)。(3)50例患者中共有14例發(fā)生房顫復發(fā)，分為復發(fā)與未復發(fā)組。單因素變量分析顯示左房低電壓、年齡、左房內徑及房顫類型是房顫射頻消融手術復發(fā)的預測因素。而多因素變量分析顯示左房低電壓是獨立的房顫射頻消融術后復