自相關(guān)過(guò)程殘差控制圖及模式分類(lèi)方法研究.pdf

1、隨著全球市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的加劇,顧客對(duì)產(chǎn)品和服務(wù)質(zhì)量的要求越來(lái)越高,質(zhì)量控制得到了越來(lái)越多的重視。統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制是保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要技術(shù)手段,然而常規(guī)控制圖所要求的獨(dú)立同分布的前提條件在實(shí)際中并不能總是得到滿(mǎn)足。而由于數(shù)據(jù)采集技術(shù)的發(fā)展,自相關(guān)現(xiàn)象也更加普遍,因而對(duì)自相關(guān)過(guò)程控制的研究具有重要的意義
　　 本文首先研究了一元自相關(guān)過(guò)程,先介紹了自相關(guān)和一元時(shí)間序列模型的基本概念,然后研究了自相關(guān)對(duì)常規(guī)控制圖的影響并用仿真的方法進(jìn)行了驗(yàn)證。

2、對(duì)一元自相關(guān)過(guò)程采用了殘差控制圖的方法,并且給出了殘差休哈特型控制圖的平均運(yùn)行鏈長(zhǎng)(ARL)。
　　 隨后研究了多元自相關(guān)過(guò)程控制,先介紹了多元時(shí)間序列模型和多元統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制的相關(guān)概念,然后用仿真的方法研究了不同的自相關(guān)系數(shù)矩陣對(duì)于MEWMA控制圖表現(xiàn)的影響,并做了理論分析。最后用仿真的方法得出了殘差MEWMA控制圖和殘差Hotelling T2控制圖的平均運(yùn)行鏈長(zhǎng)(ARL)并做了對(duì)比分析.結(jié)果表明殘差MEWMA控制圖表現(xiàn)遠(yuǎn)好于