幾種自相關過程控制圖的效果研究.pdf

1、任何企業(yè)若想在競爭中保持優(yōu)勢，就需要控制并提高產品質量。統(tǒng)計過程控制是工業(yè)生產過程中對質量把控的最常用方法，主要通過控制圖監(jiān)測質量特性確保生產過程處于受控狀態(tài)。選擇合適的控制圖，對于提高產品質量及降低成本都具有重要意義。常用的控制圖，包括常規(guī)控制圖、CUSUM控制圖和EWMA控制圖，它們在使用中受到質量特性數據獨立同分布這一假設前提的約束；然而實際生產過程中，觀測值通常是具有自相關性的。對于觀測數據自相關的生產過程，繼續(xù)使用常規(guī)控制圖等

2、進行質量監(jiān)控，可能產生大量的虛假報警，從而失去了控制圖本身的意義。因而只有消除質量特性數據間的自相關性，才能采用常規(guī)控制圖等對其進行監(jiān)控；也可通過調整控制圖的控制限，直接監(jiān)測過程的自相關數據，這是監(jiān)控自相關過程的兩種可行辦法。
　　論文針對監(jiān)控自相關過程的問題進行探討，嘗試完善統(tǒng)計過程控制適用于自相關過程的理論和方法。具體工作如下:
　　(1)闡述包括常規(guī)控制圖在內的質量控制圖的原理及參數確定方法，針對平穩(wěn)自相關過程進行研究

3、，以AR1模型擬合帶有偏移的觀測數據，若直接采用常規(guī)控制圖等進行監(jiān)控，控制圖會發(fā)生虛假警報，給出常規(guī)控制圖不適用于監(jiān)控自相關過程的缺陷。
　　(2)通過擬合時間序列模型得到殘差，以消除自相關性，將殘差作為統(tǒng)計量得到殘差控制圖。數值實驗結果表明殘差控制圖、殘差CUSUM控制圖和殘差EWMA控制圖對過程中偏移的檢測有一定效果，但計算殘差較為繁瑣。
　　(3)針對以上問題，論文提出改進的EWMA控制圖，通過重新估計統(tǒng)計量的方差改變