多元自相關(guān)過程控制與診斷方法研究.pdf

1、統(tǒng)計(jì)過程控制技術(shù)廣泛應(yīng)用于過程監(jiān)控以減少過程變異、提高產(chǎn)品質(zhì)量。傳統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)過程控制技術(shù)要求觀測數(shù)據(jù)是獨(dú)立同正態(tài)分布的,然而在許多工業(yè)過程中這一假設(shè)很難得到滿足,例如化工、冶金等行業(yè),數(shù)據(jù)常常是多元自相關(guān)的。研究多元自相關(guān)過程的控制與診斷方法,對(duì)企業(yè)提高市場競爭力具有重要意義。本論文的主要研究內(nèi)容包括:
　　1.殘差T2控制圖平均運(yùn)行鏈長(ARL)的計(jì)算方法。首先得出殘差對(duì)均值偏移的動(dòng)態(tài)響應(yīng),然后得到殘差T2統(tǒng)計(jì)量的分布,據(jù)此可以得

2、到每一時(shí)刻T2統(tǒng)計(jì)量超出控制限的概率,最后代入ARL的定義式,可以得出一個(gè)有限項(xiàng)的ARL計(jì)算公式。并通過該方法精確計(jì)算殘差T2控制圖具有相同非中心參數(shù)的不同偏移的ARL,證明了殘差T2控制圖不具有方向不變性。
　　2.樣本數(shù)量對(duì)殘差T2控制圖性能的影響。通過仿真研究了不同的樣本數(shù)量對(duì)多元自相關(guān)過程殘差T2控制圖平均運(yùn)行鏈長性能的影響。仿真的結(jié)果表明,對(duì)于多元自相關(guān)過程,小樣本情況下殘差T2控制圖使用F分布控制限比使用卡方控制限其實(shí)

3、際ARL更接近于理論值。最后根據(jù)仿真的結(jié)果得出了使用F分布控制限時(shí)殘差T2控制圖要獲得接近于理論值的ARL所需的樣本數(shù)量。
　　3.誤差項(xiàng)不服從多元正態(tài)分布對(duì)殘差控制圖性能的影響。通過仿真研究了多元自相關(guān)過程誤差項(xiàng)為不同自由度的多元t分布時(shí)對(duì)殘差T2控制圖與殘差MEWMA控制圖的性能影響,指出殘差T2控制圖對(duì)正態(tài)性假設(shè)非常敏感,而具有較小平滑參數(shù)的殘差MEWMA控制圖對(duì)正態(tài)性假設(shè)比較穩(wěn)健。最后,評(píng)估了殘差MEWMA控制圖選取較小的