考試焦慮程度對(duì)注意脫離的影響——來自認(rèn)知和神經(jīng)的證據(jù).pdf

1、本研究通過6個(gè)實(shí)驗(yàn),旨在探究大學(xué)生中,高、低考試焦慮個(gè)體的注意脫離在認(rèn)知加工及神經(jīng)機(jī)制上存在的差異。為了保證實(shí)驗(yàn)材料的有效性,本研究首次對(duì)考試圖片進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化評(píng)定,發(fā)現(xiàn)與考試相關(guān)程度越高的圖片,越容易誘發(fā)個(gè)體的負(fù)性情緒,且這類圖片的情緒喚醒度相對(duì)較高。同時(shí),為了保證被試取樣具有普遍性及代表性,本研究對(duì)259名被試進(jìn)行了問卷調(diào)查,為后期的行為及腦電實(shí)驗(yàn)提供了良好的被試樣本。問卷調(diào)查結(jié)果顯示:中國(guó)大學(xué)生高考試焦慮檢出率為20.8％；且考試焦

2、慮與特質(zhì)焦慮及抑郁存在較高的正相關(guān)。這一結(jié)果表明,考試焦慮個(gè)體通常伴隨有特質(zhì)焦慮和抑郁的癥狀,單純考試焦慮存在的可能性較小。在以上兩項(xiàng)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)上,本研究分別采用線索提示范式和中央線索范式,結(jié)合事件相關(guān)電位(event-related potentials,ERFs)技術(shù),對(duì)高、低考試焦慮個(gè)體的注意脫離機(jī)制進(jìn)行考察。結(jié)果發(fā)現(xiàn):
　　 ⅰ.在線索提示范式中,高、低考試焦慮被試僅在注意脫離上存在顯著差異,且高考試焦慮被試的注意脫離指

3、數(shù)顯著高于低考試焦慮被試,表明高考試焦慮被試對(duì)與考試有關(guān)的圖片存在注意脫離困難；
　　 ⅱ.線索提示范式下的腦電結(jié)果顯示,不同類型圖片刺激誘發(fā)的腦電成分(N150,P3a&P3b)存在顯著差異,該差異主要出現(xiàn)在大腦額葉區(qū)。同時(shí),高、低考試焦慮被試之間的差異同樣顯著。這一結(jié)果表明,較之于考試無關(guān)的圖片,與考試有關(guān)圖片刺激能夠誘發(fā)高考試焦慮被試更多的注意警覺,且消耗更多的注意加工資源；
　　 ⅲ.為了排除空間位置因素對(duì)注意脫

4、離造成的影響,本研究采用中央線索范式發(fā)現(xiàn),高、低考試焦慮被試在注意脫離上仍然存在顯著差異,主要表現(xiàn)在高考試焦慮被試對(duì)與考試有關(guān)的圖片出現(xiàn)注意脫離困難。但是,所有被試在兩種實(shí)驗(yàn)范式下的反應(yīng)時(shí)并沒有顯著差異。
　　 ⅳ.中央線索范式下的腦電結(jié)果顯示,不同類型圖片刺激誘發(fā)的腦電成分(N100,P300)存在顯著差異,該差異主要出現(xiàn)在大腦額葉及頂葉區(qū)。而高、低焦慮被試僅在N100成分上存在顯著差異,表明高、低考試焦慮被試對(duì)不同類型刺激的