基于FDR編碼的數(shù)字電路測(cè)試壓縮方法研究.pdf

1、龐大的測(cè)試數(shù)據(jù)量對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)的存儲(chǔ)性能、I/O通道數(shù)和工作頻率提出了更高的要求，同時(shí)增加了測(cè)試應(yīng)用時(shí)間，提高了測(cè)試成本。因此，如何降低測(cè)試成本成為集成電路測(cè)試的一個(gè)重要研究課題。本文圍繞這個(gè)課題提出了兩種測(cè)試壓縮方法。
　　(1)FDR編碼方法有效地降低了測(cè)試數(shù)據(jù)量，但其測(cè)試集中的無(wú)關(guān)位全部填充為0，平均每個(gè)測(cè)試向量檢測(cè)的故障數(shù)目較少，測(cè)試質(zhì)量較低。為了提高測(cè)試質(zhì)量，并進(jìn)一步提高測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮率，本文提出了一種利用前一個(gè)

2、測(cè)試向量的響應(yīng)填充當(dāng)前測(cè)試向量無(wú)關(guān)位的測(cè)試壓縮方法，該方法提高了測(cè)試向量中無(wú)關(guān)位填充的隨機(jī)性，從而提高了測(cè)試集的測(cè)試質(zhì)量。提出方法的壓縮效率與測(cè)試向量的順序有關(guān)，本文基于最近鄰居算法對(duì)測(cè)試集進(jìn)行排序，降低測(cè)試響應(yīng)與下一個(gè)測(cè)試向量之間的距離，對(duì)測(cè)試響應(yīng)和測(cè)試向量差分處理后再進(jìn)行FDR編碼，從而降低數(shù)據(jù)量。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，對(duì)于較大的ISCAS'89電路，與FDR相比，該方法測(cè)試質(zhì)量平均提高了5.9％，測(cè)試壓縮率平均提高了2.5％，而增加的硬件

3、開(kāi)銷僅為一個(gè)兩輸入異或門，可以忽略不計(jì)。
　　(2)通過(guò)將測(cè)試數(shù)據(jù)廣播到相容的掃描單元（掃描樹(shù)的同一層），掃描樹(shù)技術(shù)有效地降低了測(cè)試數(shù)據(jù)量和測(cè)試應(yīng)用時(shí)間。本文將上述提出方法應(yīng)用到掃描樹(shù)技術(shù)中，提出了一種基于掃描樹(shù)技術(shù)與FDR的測(cè)試壓縮方法。該方法對(duì)掃描樹(shù)的測(cè)試響應(yīng)和下一個(gè)測(cè)試向量做差分，再對(duì)差分向量進(jìn)行FDR編碼。這里的測(cè)試響應(yīng)和測(cè)試向量可由每層的任一個(gè)掃描單元的值組成。由于同一層掃描單元的測(cè)試向量值相同，而測(cè)試響應(yīng)值可能不同，可