利用CBCT和頭顱定位側位片所得腭骨厚度值的相關性研究.pdf

1、I利用利用CBCT和頭顱定位側位片所得和頭顱定位側位片所得腭骨厚度腭骨厚度值的相關性研值的相關性研究中文摘要中文摘要正畸治療能否取得成功，關鍵就在于是否能夠實現(xiàn)合理的支抗控制，所以支抗控制一直是正畸醫(yī)師關注的焦點。過去的一個多世紀以來，學者們嘗試了多種方式來控制支抗，例如頭帽頦兜等口外支抗裝置，但是這些裝置需要患者良好的配合才能最大限度的發(fā)揮作用；盡管橫腭桿、Nance弓和舌弓等口內支抗裝置不依賴患者配合，但是治療過程中卻時常發(fā)生支抗丟

2、失的情況。有學者在20世紀80年代提出了將骨支抗應用于正畸領域的觀點，90年代微種植體支抗技術便迅速發(fā)展并且在全世界得到認可。由于上腭骨質致密，且無血管，神經(jīng)等解剖結構，使得學者們認為該部位適合植入微種植體。上腭微種植體支抗能否獲得良好的初期穩(wěn)定性，關鍵在于腭骨厚度，但是在CBCT引入臨床之前，正畸醫(yī)師所得患者的影像資料主要為頭顱定位側位片和全口曲面斷層片，所以，本研究旨在探索CBCT和頭顱定位側位片所得的腭骨厚度測量值之間的相關性。方

3、法：方法：拍攝31位錯牙合畸形初診患者的CBCT和頭顱定位側位片，腭骨厚度測量方法：前后向從雙側上頜第一、第二前磨牙接觸點（P1P2）到雙側上頜第一、第二磨牙接觸點（M1M2），CBCT測量值取偏心距從1.5mm到10mm之間。所得數(shù)據(jù)采用SPSS19.0統(tǒng)計軟件分析。結果：結果：P1P2和P2測量平面上，CBCT在1.5mm和5mm偏心距時的腭骨厚度測量值小于頭顱定位測量值(P0.05)；偏心距為10mm時所有測量平面的CBCT測量值