利用CBCT和頭顱定位側(cè)位片所得腭骨厚度值的相關(guān)性研究.pdf

1、I利用利用CBCT和頭顱定位側(cè)位片所得和頭顱定位側(cè)位片所得腭骨厚度腭骨厚度值的相關(guān)性研值的相關(guān)性研究中文摘要中文摘要正畸治療能否取得成功，關(guān)鍵就在于是否能夠?qū)崿F(xiàn)合理的支抗控制，所以支抗控制一直是正畸醫(yī)師關(guān)注的焦點。過去的一個多世紀以來，學(xué)者們嘗試了多種方式來控制支抗，例如頭帽頦兜等口外支抗裝置，但是這些裝置需要患者良好的配合才能最大限度的發(fā)揮作用；盡管橫腭桿、Nance弓和舌弓等口內(nèi)支抗裝置不依賴患者配合，但是治療過程中卻時常發(fā)生支抗丟

2、失的情況。有學(xué)者在20世紀80年代提出了將骨支抗應(yīng)用于正畸領(lǐng)域的觀點，90年代微種植體支抗技術(shù)便迅速發(fā)展并且在全世界得到認可。由于上腭骨質(zhì)致密，且無血管，神經(jīng)等解剖結(jié)構(gòu)，使得學(xué)者們認為該部位適合植入微種植體。上腭微種植體支抗能否獲得良好的初期穩(wěn)定性，關(guān)鍵在于腭骨厚度，但是在CBCT引入臨床之前，正畸醫(yī)師所得患者的影像資料主要為頭顱定位側(cè)位片和全口曲面斷層片，所以，本研究旨在探索CBCT和頭顱定位側(cè)位片所得的腭骨厚度測量值之間的相關(guān)性。方

3、法：方法：拍攝31位錯牙合畸形初診患者的CBCT和頭顱定位側(cè)位片，腭骨厚度測量方法：前后向從雙側(cè)上頜第一、第二前磨牙接觸點（P1P2）到雙側(cè)上頜第一、第二磨牙接觸點（M1M2），CBCT測量值取偏心距從1.5mm到10mm之間。所得數(shù)據(jù)采用SPSS19.0統(tǒng)計軟件分析。結(jié)果：結(jié)果：P1P2和P2測量平面上，CBCT在1.5mm和5mm偏心距時的腭骨厚度測量值小于頭顱定位測量值(P0.05)；偏心距為10mm時所有測量平面的CBCT測量值