受體相互作用蛋白3及經典程序性壞死信號通路在腦缺血再灌注損傷中的作用研究.pdf

1、背景:細胞死亡涉及到生命的多個環(huán)節(jié)，正面作用有：胚胎的發(fā)育，機體細胞的“新陳代謝”，反面左右有：炎癥、腫瘤等。既往認為細胞死亡中除細胞凋亡是基因預存的主動死亡模式，是由細胞產生各種信號分子伴隨能量消耗最終導致細胞死亡之外，其他的細胞死亡都是被動的不可逆的細胞死亡。2005年Degterev等提出一種新的細胞死亡方式：細胞程序性壞死。細胞的這種死亡方式具有壞死樣結構特點，細胞膜完整性破壞，周圍組織炎癥反應，同時該過程受細胞內一系列信號分子

2、調控。腦缺血所致腦損傷是我國神經科致死、致殘的主要病因之一。如果能通過深入探索程序性壞死信號通路的生物化學機制，更進一步研究程序性壞死信號通路在相關疾病中的參與程度與作用，不但利于對該信號通路的認知，且對神經內外科相關神經缺血再灌注損傷相關疾病的治療藥物、治療靶向、治療方法起到拓寬、確立的重要作用。
　　目的:本實驗研究體外培養(yǎng)神經元細胞在缺血再灌注損傷后 RIP3的變化規(guī)律。本實驗受臨床上腦梗死后出現缺血半暗帶啟發(fā)，研究并探討程

3、序性壞死在半暗帶區(qū)和梗死區(qū)的分布，進一步揭示程序性壞死在腦缺血再灌注損傷中的作用機制。
　　方法:原代神經元培養(yǎng)，神經元細胞熒光鑒定，RIP3熒光鑒定，傳代細胞HT22細胞培養(yǎng)及凍存，細胞造缺氧模型，動物造缺氧再灌注模型，PCR技術，Western Blotting技術，MTT技術，鼠腦TTC染色
　　結果: RIP3表達在缺血再灌注在體和體外模型中都有顯著變化。在本實驗所設之間點中，在缺血再灌注損傷后12小時RIP3表達達

4、到高峰。小鼠海馬來源細胞系HT22與大鼠皮層神經元造模后PCR結果趨勢一致。動物造模后梗死區(qū)及半暗帶區(qū)Western Blotting趨勢一致，與細胞 PCR趨勢一致。在體實驗中，梗死區(qū)較半暗帶區(qū)，RIP3表達波動顯著。缺氧時間1小時NEC-1實驗組細胞存活率較對照組升高不明顯，而缺氧時間為4小時NEC-1實驗組細胞存活率較對照組顯著升高。
　　結論:腦缺血再灌注模型中，缺血區(qū)和半暗帶區(qū)由于損傷程度不同，程序性壞死參與度不同，梗死