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文檔簡(jiǎn)介
1、隨著無(wú)線通信技術(shù)的不斷發(fā)展,RFIC(射頻集成電路)應(yīng)用范圍越來(lái)越廣。InGaP/GaAs HBT(異質(zhì)結(jié)雙極晶體管)具有高電子遷移率、高電流增益、低基區(qū)寄生電阻、襯底損耗低等優(yōu)點(diǎn),是RFIC中廣泛采用的一種工藝。然而,由于GaAs材料的散熱能力比Si差,且晶體管的結(jié)構(gòu)是垂直的,因此InGaP/GaAs HBT的散熱能力較差。同時(shí),InGaP/GaAs HBT的基區(qū)外延層很薄,高電流密度下,晶體管很容易損壞。因此,InGaP/GaAs
2、HBT工藝射頻集成電路可靠性的重要影響因素就是晶體管的可靠性。而影響晶體管可靠性的一個(gè)重要因素就是ESD(靜電放電)。
論文簡(jiǎn)要介紹了ESD現(xiàn)象以及ESD對(duì)集成電路的影響,綜述了課題的研究背景。詳細(xì)介紹了ESD測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和模型,分析研究了電路中器件的失效機(jī)制,簡(jiǎn)要介紹射頻電路分析方法。在介紹現(xiàn)有的基于InGaP/GaAs HBT工藝射頻ESD保護(hù)電路的基礎(chǔ)上,研究了一種新型的基于達(dá)林頓結(jié)構(gòu)的ESD保護(hù)電路,提出了基于InGa
3、P/GaAs HBT工藝窄帶功放全芯片ESD保護(hù)網(wǎng)絡(luò)的方案。并根據(jù)InGaP/GaAs HBT工藝功率放大器的特點(diǎn),介紹了輸入、輸出、電源ESD保護(hù)電路。為一款工作頻率1.9GHz帶寬20MHz的射頻功率放大器電路設(shè)計(jì)了ESD保護(hù)網(wǎng)絡(luò)。對(duì)電路的ESD防護(hù)性能和射頻性能并且進(jìn)行了實(shí)際測(cè)試,結(jié)果顯示電路可以承受一定的ESD脈沖,且電路的射頻性能受ESD保護(hù)電路的影響很小。
論文從整體上討論了ESD保護(hù)電路的模型和易損性分析,I
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