小麥E3基因的克隆及其在葉銹菌侵染過程中的表達分析.pdf

1、本項研究工作是在前期工作的基礎上開展的。本實驗室閻愛華等[1]構建了葉銹菌小種366侵染小麥近等基因系TcLr19早期不同時間點的SSH文庫。從中篩選出的TaE3 EST在葉銹菌侵染后16h高量表達。已有研究表明,在高溫或低溫脅迫下,植物某些蛋白會發(fā)生錯誤折疊,如果這些蛋白積累就易引起病變。具有E3活性的AtCHIP蛋白就是通過調(diào)控Hsp70、Hsp90蛋白的表達,重疊修復或降解某些異常蛋白,減少了環(huán)境脅迫對植株的損害[2]。本試驗以小

2、麥近等基因系TcLr19和葉銹菌小種366為材料,利用RT-PCR技術克隆得到TaE3基因的全長,通過實時熒光定量PCR和Western Blotting技術檢測小麥被葉銹菌侵染后不同時間點的TaE3表達特征,并通過構建真核表達載體,利用農(nóng)桿菌轉(zhuǎn)化技術轉(zhuǎn)化擬南芥,得到過表達TaE3基因的擬南芥純合體植株。獲得的主要結(jié)果如下:
　　 1.利用RT-PCR技術從小麥幼苗葉片中克隆獲得了TaE3基因的全長。
　　 2.構建了原

3、核表達載體,獲得大量TaE3融合表達蛋白,通過免疫新西蘭兔,獲得高效價的兔抗血清,并證明該血清與TaE3融合蛋白呈特異結(jié)合。
　　 3.通過qRT-PCR和Western Blotting技術檢測了TaE3基因在小麥被葉銹菌侵染后不同時間點的表達量變化。結(jié)果表明,該基因在RNA水平的表達量在8 h之前幾乎沒有變化,但在16 h表達量很高且達到峰值；在蛋白水平的表達量在8 h開始增加,16 h表達量最高,而在24 h又有所回落,4