常顯鈣化不全型遺傳性牙釉質(zhì)發(fā)育不全家系候選基因的排除.pdf

1、遺傳性牙釉質(zhì)發(fā)育不全(amelogenesis imperfecta,AI)是在釉質(zhì)形成時(shí)造釉器的某些功能障礙所導(dǎo)致的釉質(zhì)的質(zhì)或量發(fā)生缺陷的一組遺傳性疾病.AMELX基因明確定位于X染色體上,試驗(yàn)亦證實(shí)它的突變可以導(dǎo)致X連鎖型牙釉質(zhì)發(fā)育不良;但X連鎖型只占全部釉質(zhì)發(fā)育不全病例的5%,超過(guò)90%的釉質(zhì)發(fā)育缺陷與常染色體有關(guān),所以只能通過(guò)常染色體上的基因突變來(lái)解釋.本課題發(fā)現(xiàn)了一個(gè)山東德州的遺傳性牙釉質(zhì)發(fā)育不全家系,在分析了患者的臨床表現(xiàn)后

2、發(fā)現(xiàn),低鈣化為其唯一表型,將該家系患者確診為鈣化不全型AI;系譜分析表明鈣化不全型AI在該家系中呈現(xiàn)常染色體顯性遺傳方式.為分離山東德州的常染色體顯性遺傳鈣化不全型AI家系的致病基因,采用候選基因克隆策略以鑒定該家系的致病基因.由于系譜分析已經(jīng)排除了X連鎖遺傳的可能性,本研究以位于常染色體上的ENAM、AMBN、TUF1、MMP20和KLK4為候選基因,對(duì)家系各成員進(jìn)行連鎖分析.首先,在候選基因兩側(cè)1cM的范圍內(nèi)選取雜合度較高的短串聯(lián)重

3、復(fù)序列(short tandem repeat,STR)位點(diǎn),并采用PCR結(jié)合變性聚丙烯酰胺凝膠電泳的方法對(duì)該家系中能夠提供遺傳信息的19名成員進(jìn)行連鎖分析.試驗(yàn)結(jié)果排除了以上所有的候選基因是該家系致病基因的可能性,說(shuō)明中國(guó)山東德州的常染色體顯性遺傳鈣化不全型AI家系患者并不是由以上任何一個(gè)候選基因的突變所引起.研究結(jié)果提示常染色體顯性遺傳鈣化不全型AI存在遺傳異質(zhì)性;在基因組中可能有一些目前仍然未知的基因也參與釉質(zhì)的發(fā)育形成過(guò)程,它們