協(xié)同優(yōu)化移位功耗和捕獲功耗的測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf

1、不斷縮小的工藝尺寸和超高的集成度使得集成在芯片上的晶體管數(shù)目急劇增加、功能越來越復雜,給VLSI測試帶來了更加嚴峻的挑戰(zhàn)。測試數(shù)據(jù)量大和測試功耗高是VLSI測試中的兩大主要問題,它們已經嚴重影響了測試成本,研究高壓縮率、低測試功耗的測試方法對降低測試成本十分重要。針對這個問題,本文對協(xié)同降低移位功耗、捕獲功耗和提高測試壓縮率的方法展開了研究,所做的主要工作如下:
　　提出一種基于多級壓縮的低功耗測試數(shù)據(jù)壓縮方案。該方案先利用輸入精

2、簡技術對原測試集進行預處理,以減少測試集中的確定位數(shù)量,之后再進行第一級壓縮,即對測試向量按多掃描劃分為子向量并進行相容壓縮,壓縮后的測試向量可用更短的碼字表示,接著再對測試數(shù)據(jù)進行低功耗填充,先進行捕獲功耗填充,使其達到安全閾值以內,然后再對剩余的無關位進行移位功耗填充,最后對填充后的測試數(shù)據(jù)進行第二級壓縮,即改進游程編碼壓縮。對ISCAS-89基準電路的實驗結果表明,本文方案能取得比golomb碼、FDR碼、EFDR碼、9C碼、BM

3、碼等更高的壓縮率,同時還能協(xié)同優(yōu)化測試時的捕獲功耗和移位功耗。
　　給出一種基于三態(tài)控制的低功耗LFSR重播種方法。該方法將掃描切片分為了三類,并用三態(tài)信號對每一類進行編碼,從而有效地減少了測試集中的確定位數(shù)量。由于用三態(tài)信號對掃描切片標記后,這些標記中存在大量連續(xù)序列,本文對這些標記做了進一步壓縮。最后設計了一種低功耗解壓結構,通過該結構可以生成低移位功耗的測試模式,并且在捕獲階段能夠禁止部分與故障觀察無關的掃描鏈捕獲測試響應。