自相關(guān)過程的SPC評價.pdf

1、傳統(tǒng)的統(tǒng)計過程控制理論基于數(shù)據(jù)統(tǒng)計獨立的假設(shè)，而在有些實際生產(chǎn)過程中，采集到的數(shù)據(jù)往往會存在自相關(guān)。當(dāng)存在數(shù)據(jù)自相關(guān)現(xiàn)象時，序列相關(guān)對質(zhì)量控制圖監(jiān)控過程的能力有極大的影響，可能增加過程異常的錯誤報警，也可能漏發(fā)過程異常的真實報警。因此，本文對質(zhì)量控制圖序列相關(guān)處理理論及方法進(jìn)行了深入系統(tǒng)研究，對進(jìn)一步完善質(zhì)量控制圖的理論體系具有重要的理論意義；同時，也為實際工作中正確使用質(zhì)量控制圖提供了指導(dǎo)，對保證產(chǎn)品質(zhì)量具有較高的實際價值。

2、本文首先介紹了SPC與常規(guī)控制圖技術(shù)、自相關(guān)及時間序列的基礎(chǔ)理論和知識。然后給出了處理自相關(guān)過程的兩種方法：修正控制限控制圖和殘差控制圖。 修正控制限控制圖的優(yōu)點在于不需要用時間序列模型來擬合測量值，只要過程處于平穩(wěn)狀態(tài)，利用其自協(xié)方差函數(shù)和自相關(guān)函數(shù)，即可得出最終的控制界限，從而繪制出自相關(guān)過程的控制圖。 殘差控制圖是利用時間序列模型的殘差來控制自相關(guān)過程質(zhì)量的一種方法。分析結(jié)果表明：當(dāng)過程存在自相關(guān)時，運(yùn)用殘差控制圖