基于ieee1149.1的多邊界掃描鏈測試技術研究_第1頁
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文檔簡介

1、 分類號 密級 U D C 編號 桂林電子科技大學 碩 士 學 位 論 文 題目 題目 基于 基于 IEEE1149.1 的多邊界掃描鏈測試技術研究 的多邊界掃描鏈測試技術研究

2、（英文 （英文）Research On Multiple Boundary Scan Chains Test Technology Based On IEEE1149.1 研 究 生 姓 名: 李 坤 指導教師姓名、職務 指導教師姓名、職務: 雷 加 副 申 請 學 位 門 類: 工 學 碩 士

3、 學 科、專 科、專 業(yè): 測試計量技術及儀器 提 交 論 文 日 期: 2006 年 4 月 論 文 答 辯 日 期: 2006 年 6 月 年 月 日 基于 IEEE1149.1 的多邊界掃描鏈測試技術研究

4、 Ⅰ 摘要 隨著集成電路復雜性的不斷增加和集成度的不斷提高，電路測試變得越來越困難。 邊界掃描技術正是為了解決這一問題而產(chǎn)生的一種結構可測性設計方法， 但是由于其數(shù)據(jù)串行移位的特點， 使得測試時間過長， 如果采用并行多鏈的測試方法則可以大大的縮短測試時間，提高測試效率。本文正是以此為研究方向，重點對多邊界掃描鏈的優(yōu)化配置以及多鏈的互連測試實現(xiàn)進行研究。 本文在深入研究 IEEE1149.1 標準后，根據(jù)標準提出的幾種掃描鏈結構，重點解決

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